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DTL-NANDによるスルーラッチの実験


本ページ作成。(2026/09/15)

  1. 実験の目的

  2. DTL(Diode Transister Logic)にて作成されたNAND回路を使って
    スルーラッチ(D-ラッチ)を構成し、その論理動作を確認します。

  3. 実験課題

  4. 下記の項目について実験します。
    1. NANDにより構成したスルーラッチ(D-ラッチ)の動作確認
    2. スルーラッチのQnとD端子を接続し、EN="H"としたときの挙動観察

  5. 実験回路

    1. NANDにより構成したスルーラッチ(D-ラッチ)の動作確認
    2. (1)NANDによるスルーラッチ回路


      (2)スルーラッチのシンボル例


    3. スルーラッチのQnとD端子を接続し、EN="H"としたときの挙動観察


  6. 回路の動作

  7. EN="H"のとき、Dと同じ値がQpに現れます。
    EN="L"のとき、EN="L"となる直前のDの値がQpに保持されます。
    EN="L"の状態でDを変化させてもQpは変化しません。

    1. EN="H"のとき(スルー動作)
    2. (1)D="L"のとき


      (2)D="H"のとき


    3. EN="L"のとき(保持動作)


    4. 真理値表
    5. 以上の動作を真理値表で表すと下記となります。
      EN  D  Qp  Q* 
      LX保持保持
      HLLH
      HHHL

    更に詳細な動作については、トランジスタ・パルス回路の解析の NANDによるスルーラッチ
    参照してください。

  8. 実験回路の設計

  9. 【本節の記述は DTL-NANDによるRS-FFの実験と同じ内容になります。】

    NANDをひとつの論理素子と考えた場合、スルーラッチの回路構成は決まっているので
    NANDとNAND間を接続する際の電気的仕様がうまく整合していることの
    確認のみを行います。

    1. DTL-NANDブロックの電気的仕様

    2. DTL-NANDブロックの信号の電圧レベル

    3. DTL-NANDブロックのファン・アウト
    4. 出力の状態をすぐに判定出来るようにLEDを接続します。
      端子Qpと端子Qnの両方に接続すると交互に点灯して楽しいのですが、
      Qp側のみに接続します。こうするとQp="L"(Qn="H")のときLEDが点灯します。

      LEDは680[Ω]の抵抗経由でVccに接続します。抵抗の最大誤差は5%とすれば、
      点灯時、LEDに流れる最大電流(ILED(max))は
      ILED(max) = (VCC(max) - VLED(min)) / RL(min)
         = (5.25[V] - 2[V] * 1.05) / (680[Ω] * 0.95) ≒ 4.9[mA]

      LEDの型式は不明なので、順方向電圧は2[V]±5%と仮定しました。
      NANDの出力に接続される最大負荷は、NANDとLEDを接続したときです。
      出力が"L"の場合のファン・アウトは下図となり、IOL(max)=8.0[mA]に対し
      最大5.3[mA]の流れ込みなので問題ありません。


      出力が"H"の場合のファン・アウトは下図となりますが、流れ出しの電流は0なので
      こちらも問題ありません。


  10. 実験方法

    1. NANDにより構成したスルーラッチ(D-ラッチ)
    2. (1)下図の回路を組み立てます。
       RSフリップフロップのときとはQpとQnの位置が逆なので注意します。


      (2)電源を入れます。
      (3)EN端子はopen(EN="H")とします。このときスルー状態です。
      (4)D端子をopen(D="H")とします。
       LEDが消灯し(Qp="H")、電圧計VQがほぼ0[V]("L")となることを確認します。
      (5)D端子とグランド間を接続します。
       LEDが点灯し(Qp="L")、電圧計VQがVccになることを確認します。
      (6)EN端子とグランド間を接続します。このとき保持状態です。
      (7)D端子とグランド間の接続を外したり、接続したりして
       LEDが点灯したままで(Qp="L")、電圧計VQがVccのままであることを 確認します。
      (8)D端子とグランド間の接続を外し(スルー状態)、D端子をopenにします。
       LEDが消灯し(Qp="H")、電圧計VQがほぼ0[V]("L")になることを確認します。
      (9)EN端子とグランド間を接続します。このとき保持状態です。
      (10)D端子とグランド間の接続を外したり、接続したりして
       LEDが消灯したままで(Qp="H")、電圧計VQがほぼ0[V]("L")のままであることを 確認します。
      (11)以上の操作結果から下記の表のQp、Qn欄を埋めます。
      EN  D  Qp  Qn 
      HL  
      HH  
      LL  
      LH  

    3. QnとD端子を接続し、EN="H"としたときの挙動観察
    4. (1)下図の回路を組み立てます。


      (2)電源を入れ、オシロスコープでQnの波形を観測します。

  11. 実験機材

    1. DTL-NANDブロック電子ブロック
    2. 簡易安定化電源 (5[V]端子)
    3. テスター

  12. 実験結果

    1. NANDにより構成したスルーラッチ(D-ラッチ)
    2. Qp、Qnの欄(赤色)が測定結果。
      EN  D  Qp  Qn 
      HL L H
      HH H L
      LL 保持 保持
      LH 保持 保持

    3. QnとD端子を接続し、EN="H"としたときの挙動観察
    4. 発振波形が観測されました。
      発振周波数はおよそ100kHz

      D,Qn、2V/div、2μs/div
  13. 考察

    1. NANDにより構成したスルーラッチ(D-ラッチ)

    2. QnとD端子を接続し、EN="H"としたときの挙動観察

  14. 今後の課題

    1. 特になし

  15. 参考文献

    1. 特になし

  16. 関連項目

    1. トランジスタ・パルス回路の解析− DTL-NANDによるスルーラッチの解析
    2. ディジタル回路実験ツール−DTLによるNANDブロック
    3. 自作電子ブロック
    4. 簡易安定化電源



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