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FETのデバイス実験


工事中(2020/3/30)
  1. 接合型FETのソース接地回路の静特性測定

    1. 実験の目的
      接合型FETのソース接地回路の静特性を測定することで
      接合型FETタの動作を確認するとともに、小信号等価回路の
      パラメータについて考察します。

    2. 実験課題
      下記の項目について静特性の測定を行い、測定結果から等価回路のパラメータを。
      求めます。
        (1)VGS-ID特性
        (2)VDS-ID特性

    3. 実験回路
    4. 実験の詳細(工事中)

      実験の詳細はこちら。(工事中)


  2. ソース共通増幅回路(交流負帰還なし)

    1. 実験の目的
      ソース共通増幅回路に、
      交流負帰還をかけないで増幅動作をさせ、設計値と測定値を比較する。

    2. 実験課題
      下記の項目について簡易測定を行い、設計値と測定値を比較する。
        (1)直流動作点
        (2)入力インピーダンス
        (3)出力インピーダンス
        (4)増幅度

    3. 実験回路
    4. 実験の詳細(工事中)


  3. ソース共通増幅回路(交流負帰還有り)

    1. 実験の目的
    2. 実験課題
      下記の項目について簡易測定を行い、設計値と測定値を比較する
      1. 入力インピーダンス
      2. 出力インピーダンス
      3. 増幅度

    3. 実験回路
    4. 実験の詳細(工事中)

  4. ソース・フォロワー

    1. 実験の目的
    2. 実験課題
    3. 実験回路
    4. 実験の詳細(工事中)

  5. ゲート接地増幅回路

    1. 実験の目的
    2. 実験課題
    3. 実験回路
    4. 実験の詳細(工事中)

  6. カスコード接続

  7. 定電流回路

  8. バワーMOS FET


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