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DTL NANDの実験


工事中(2014/10/02)
  1. 実験の目的

    DTL(Diode Transister Logic)の直流特性を測定することを通じて、論理機能を確認する。
    またDTL回路を接続する際に確認すべき項目について検討する。

  2. 実験課題

    下記の項目について測定をいDTL NAND回路の動作を確認する。

  3. 実験回路

  4. 回路の動作


    1. O


  5. 回路の設計

    1. 設計条件
        (1)電源電圧(Vcc): 5V±5%
        (2)出力レベル(Vo):
         VOH
         VOL
        (3)入力レベル(Vi):
         VIH
         VIL
        (4)負荷抵抗(ZL): 4.7kΩ(ON時/OFF時)
        (5)入力側内部抵抗(Zs):
        (6)トランジスタ直流電流増幅率(hFE):

    2. Rcの選定
    3. RBの選定

  6. 実験方法

    (1)下図の回路を組み立てます。


    (2)
  7. 実験機材

    1. 自作電子ブロック 必要ブロック
      • トランジスタ(2CS1815相当品)×2個
      • 抵抗器×2個

  8. 実験結果


  9. 測定結果・考察

  10. 今後の課題

  11. 参考文献



  12. 関連項目



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